투과 전자 현미경(TEM)을 이용한 전기적 분석은 재료 과학, 나노 기술, 소자 개발 및 고장 분석을 발전시키는 데 중요한 역할을 하며 , 나노 규모 재료 및 소자의 거동과 특성에 대한 통찰력을 제공합니다.
제조사 바로가기전자적 특성 및 결함에 대한 정밀하고 고품질의 시각화
본 데이터 획득 시스템은 외부 스캔 인터페이스를 갖춘 모든 투과 전자 현미경(TEM)과 호환
모든 증폭 및 데이터 수집 설정은 소프트웨어로 제어됨
각 신호는 자동으로 정량화되어 전류 값(µA, nA, pA)으로 표시
The key features:
- Ultra-fast multi-channel imaging / Live-color mixing / Quantitative signal processing / Integrated lock-in EA
- Fast amplification optimized for imaging / Wide gain range to fit all techniques
- Miniaturized on-holder electronics / Automated signal routing
