데드타임 없는 판독 기능 덕분에 시료가 제공할 수 있는 모든 정보를 수집합니다.
높은 프레임 및 카운트 속도를 통해 실험 시간을 크게 단축하고 장비 처리량을 증가시킵니다.
애플리케이션 프로그래밍 인터페이스(API)는 모든 데이터 파이프라인 또는 전자 현미경 시스템에 손쉽게 통합할 수 있게 합니다.
제조사 바로가기DECTRIS ELA® 전자 계수 검출기는 검출기 노이즈, 프레임 속도, 동적 범위 측면에서 동급 최고의 성능을 제공합니다.
100 pA를 훨씬 초과하는 프로브 전류를 처리할 수 있으며, 약한 반사와 강한 반사를 동시에 포착하여 고급 회절 및 이미징 연구를 가능하게 합니다. 또한 한 번에 빠른 원소 매핑이 가능하여, 특히 빔에 민감한 물질을 다룰 때 뛰어납니다.
ELA 하이브리드 픽셀 검출기는 전자 에너지 손실 분광법(EELS) 및 4차원 스캐닝 투과 전자 현미경(4D STEM)에 특화되어 최적화되었습니다.
| Items |  |
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|---|---|---|---|---|
| Model | ARINA | ELA | SINGLA | QUADRO |
| Frame rate (Max) | 120,000 Hz(fps) | 2,250 Hz at 16 bits 4,500 Hz at 8 bits 18,000 Hz with ROI mode |
2,250 Hz at 16 bits 4,500 Hz at 8 bits |
2,250 Hz at 16 bits 4,500 Hz at 8 bits 9,000 Hz at 16 bits/ROI mode 18,000 Hz at 8 bits/ROI mode |
| Count rate (Max) | 108 el/s/pixel | 107 el/s/pixel Count rate capability ＞ 1 pA/pixel |
107 el/s/pixel | 107 el/s/pixel |
| Number of pixels | 192×192 | 1,028×512 | 1,028×1,062 | 512×512 |
| Pixel size [μ㎡] | 100×100 μ㎡ | 75×75 μ㎡ | 75×75 μ㎡ | 75×75 μ㎡ |
| Active area | 20×20 mm | 77.1×38.4 mm | 77.1×77.1 mm | 38.4×38.4 mm |
| Sensor material | Silicon (Si) or high-Z(CZT, CdZnTe) | Silicon | Silicon(450μm) or GaAs | Silicon |
| Dynamic range | 12 bit | 16 bit | 16 bit | 16 bit |
| Energy range | 1) 30-200 keV (Si) 2) 200-300 keV (CZT) |
30-300 keV | 30-200 keV | 30-300 keV |
| Detective quantum efficiency, DQE(0) |
Silicon (Si): 0.78 at 100 kV, 0.67 at 200 kV high-Z: 0.70 at 200 kV, 0.75 at 300 kV |
0.81 at 100 keV 0.85 at 200 keV |
0.98 at 100 keV 0.90 at 200 keV |
0.81 at 100 keV 0.85 at 200 keV |
| Detector mounting | Retractable | on-axis | Bottom-mounted, on-axis | Bottom-mounted, on-axis |
| OEM compatibility | Jeol, TFS, Hitachi | Nion, CEOS, Gatan | Jeol, TFS, Hitachi | Jeol, TFS, Hitachi, Tescan |
