All-in-one - 모든 측정값과 이미지를 단일 프로젝트 내에서 체계적으로 관리하세요. SEM 이미지, 원본 EDS 스펙트럼, 설정 값, 시료 위치가 저장됩니다. 원본 파일을 수정하지 않고도 과거 데이터에 쉽게 주석을 달고 수정할 수 있습니다.

Rapid & Reliable – 실시간 스펙트럼 시각화를 통해 빠르고 정확한 원소 분석이 가능합니다. 기준 데이터와 시뮬레이션 스펙트럼 오버레이를 사용하여 피크와 오차를 신속하게 식별합니다.

Effortless Reporting – 성분 mapping, 라인 스캔, 정량 분석 프로젝트 결과를 PDF와 DOCX 형식으로 만들 수 있습니다.

Live Elemental Mapping – 스캔이 더 많은 스펙트럼을 누적함에 따라 mapping 품질이 지속적으로 향상됩니다. 원소 신속하게 식별하는 동시에, 모든 원본 스펙트럼은 추후 분석을 위해 저장됩니다.

Get Answers within Seconds – 이미징 및 EDS 애플리케이션 간의 긴밀한 통합으로 SEM 이미지의 모든 위치에서 조성 분석을 수행하거나 광학 화면을 통해 빠르게 탐색할 수 있습니다.

High Count-Rate – 텅스텐 전자 소스는 높은 빔 전류와 탁월한 X선 계수율을 제공하여 빠르게 저잡음, 고해상도의 원소 분포도를 획득하는 데 이상적입니다.