Semplor Explore Apps는 SEM 이미징을 고급 재료 특성 분석으로 전환합니다.
NANOS 인터페이스에 완벽하게 통합된 Explore Apps는 클릭 한 번으로 접근 가능한 모듈을 추가하여, SEM 환경을 벗어나지 않고도 입자, 섬유 및 3D 분석을 가능하게 합니다.
제조사 바로가기Semplor Explore Apps를 통해 NANOS의 역량을 확장 가능합니다.
NANOS의 인터페이스와 통합되어 추가 프로그램이 필요 없습니다.
필요한 모듈을 선택하여 손쉽게 적용 가능합니다.
분석 결과를 간편하게 출력하여 연구와 QC에 적용 가능합니다.
입자, 기공, grain을 정밀하게 감지, 정량화, 측정합니다.
이 모듈은 입자 분산 또는 시료 준비 과정의 문제를 해결하기 위해 임계값 설정 및 유역 분할을 포함한 다양한 분할 방법을 제공합니다. 접촉 중인 입자도 개별적으로 분리 및 분석할 수 있습니다. 결과에는 크기, 면적, 둘레, 형상 특성 및 개수 분포가 포함되며, 입자 경계를 명확하게 표시하는 이미지 오버레이가 제공됩니다.
섬유 분석을 위한 모듈입니다.
섬유의 직경, 방향성, 곡률을 측정하며, 겹치거나 접촉하는 섬유를 정확하게 추적할 수 있습니다. 방향성 분포와 기공 특성이 자동으로 측정되어 섬유, 부직포, 전기방사 소재 등에 유용한 수치 정보를 제공합니다.
SEM 이미지에서 사실적인 3D 모델링과 정량적 높이 지도를 생성합니다.
NANOS Desktop SEM은 독특한 스테이지 정렬 틸트 기능을 갖추어 SE, BSE 이미지 모두에 대한 입체 촬영을 가능하게 합니다. 이는 다른 SEM에서는 일반적으로 제공되지 않는 기능입니다. 또한 4분면 BSE 검출기는 보정된 지형도와 높이 지도를 생성하며, 단일 이미지 렌더링은 빠르게 3D 모델을 제작합니다.
