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      강력하고 다양한 스캔 생성기 및 이미지 획득 시스템

      DISS6(Digital Imaging Scanning System)은 SEM(주사전자현미경)용 최신이자 최고 성능의 스캔 생성 및 이미지 획득 시스템DISS6는 기존의 직사각형(래스터) 스캔뿐만 아니라 점 기반(벡터) 스캔도 생성할 수 있으며, 4개의 아날로그 입력과 12개의 디지털 입력을 동시에 획득할 수 있습니다.

      내장된 MICS 증폭기를 추가하면 아날로그 입력을 최대 16개까지 원활하게 확장할 수 있습니다.

      이 시스템은 Windows 및 Linux용 DISS6Control 라이브러리를 사용하여 USB 또는 ETH 인터페이스를 통해 완벽하게 통합 및 제어됩니다. 제어 및 데이터 수집 애플리케이션에 통합할 수 있는 SDK가 제공되며, 여기에는 문서 및 데모 소스 코드가 포함됩니다. 독립적으로 사용할 수 있는 기본 애플리케이션은 DISS6 이미지 수집 소프트웨어입니다.

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    주요 성능 지표
    • 최소 픽셀 체류 시간 10ns

      500 MegaPixels maximum resolution.

      • Electron Beam Induced Current (EBIC)
        Electron Beam Induced Current (EBIC)
        • map internal electric fields in semiconductors and ceramics
        • characterise electrical activity of defects
        • localise material and/or processing detects
      • Resistance Contrast Imaging (EBAC/RCI)
        Resistance Contrast Imaging (EBAC/RCI)
        • localise open and shorts in inteconnects
        • identify weaknesses in oxide layers
        • map resistance with high spatial resolution
      • Electron Beam Induced Current Change (EBIRCh)
        Electron Beam Induced Current Change (EBIRCh)
        • localise defects in transistors with high-spatial resolution
        • pin-point leackages/weaknesses in oxides
        • similar with Optical Beam Induced Resistance change (OBIRCh)